產品介紹
平面CT專業用于檢測和分析板狀結構器件內部質量與結構情況，適用于PCB、BGA、SMT，集成芯片等器件和加工工藝的質量評定和分析。重構出掃描三維斷層圖像，實現對板狀器件缺陷的空間定位，以及逆向生成電路板CAD設計。
檢測對象
印刷電路板、電子與機械、模塊、機電、組件和插頭，半導體封裝與互連、微系統、傳感器、執行器、MEMS和MOEMS。
主要參數
●管電壓：160kV或225kV
●管類型：開放式微焦點射線管
●發射方式：透射式
●靶材：鎢靶
●JIMA分辨率：最 佳可達0.5μm
●掃描方式：平面掃描
●探測器：數字平板探測器